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博勒飛CTX質(zhì)構(gòu)儀在粉餅物性測(cè)試中的應(yīng)用

作者：上海倍迎編輯： Ametek 來(lái)源： Brookfield 發(fā)布日期： 23-04-10

信息摘要：

博勒飛CTX質(zhì)構(gòu)儀在粉餅物性測(cè)試中的應(yīng)用面部粉餅是壓縮粉餅。質(zhì)地結(jié)構(gòu)、色調(diào)和香味是爽膚粉的三個(gè)關(guān)鍵特 ...

博勒飛CTX質(zhì)構(gòu)儀在粉餅物性測(cè)試中的應(yīng)用

面部粉餅是壓縮粉餅。質(zhì)地結(jié)構(gòu)、色調(diào)和香味是爽膚粉的三個(gè)關(guān)鍵特征，對(duì)制造商來(lái)說(shuō)很重要，對(duì)消費(fèi)者來(lái)說(shuō)也是明顯的特征。

按體積計(jì)算，壓縮粉餅的基本成分是滑石粉，一種天然的含水硅酸鎂，占粉末總量的70%或更多?；凼狗埏炄彳浨乙子谑褂?，表現(xiàn)出絲滑的使用體驗(yàn)。粘合劑和其他原料的添加，可以有效防止粉餅在運(yùn)輸和使用過(guò)程中發(fā)生破碎、開(kāi)裂的情況，且具有除塵作用，為壓縮粉餅提供多樣的顏色、氣味，并保持良好的穩(wěn)定性。

通過(guò)質(zhì)構(gòu)分析，可以保證產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定性和一致性。因此，原料的選擇和它們各自的比重是重要的，并將影響粉餅的硬度。

CTX質(zhì)構(gòu)儀可以通過(guò)2毫米圓柱形探頭的穿刺測(cè)試評(píng)價(jià)壓縮粉餅的硬度或“強(qiáng)度”。

粉餅測(cè)試所用設(shè)備

儀器：CTX（5Kg負(fù)載單元）

附件：2 mm Cylinder Probe (TA-39)

軟件：Texture Pro軟件

CTX參數(shù)設(shè)置

測(cè)試類型：Compression壓縮

測(cè)前速度：0.5 mm/s

測(cè)試速度：1.0 mm/s

測(cè)后速度：4.5 mm/s

目標(biāo)類型：Distance

目標(biāo)距離：2 mm

觸發(fā)負(fù)載：5 g

注意：為了準(zhǔn)確觸發(fā)測(cè)試，建議預(yù)測(cè)試速度小于或等于測(cè)試速度。穿透距離可以修改，但是，所選擇的目標(biāo)距離應(yīng)使探頭不接觸容器的底部。否則，儀器將過(guò)載，結(jié)果可能會(huì)有變化。

CTX測(cè)試結(jié)果

如下是一個(gè)典型的CTX質(zhì)構(gòu)儀測(cè)試譜圖，顯示了面餅的硬度，脆性等指標(biāo)。

圖1：粉餅穿刺測(cè)試曲線圖（負(fù)載/時(shí)間）

CTX結(jié)果分析

硬度：測(cè)試過(guò)程中峰值最大力值；

斷裂衰減：代表產(chǎn)品脆性的層次性，衰減越大說(shuō)明脆性的層次感越弱；

斷裂性：產(chǎn)品發(fā)生第一次斷裂的力值，力值越大說(shuō)明越不容易斷裂。

測(cè)試結(jié)果如下:

通過(guò)圖1可知，當(dāng)探頭向下運(yùn)行直至達(dá)到粉餅表面的破裂點(diǎn)之前，應(yīng)力一直處于上升的趨勢(shì)；到達(dá)破裂點(diǎn)時(shí)，圖中顯示應(yīng)力峰值；穿透表面后，測(cè)量的力值穩(wěn)步增加，直到測(cè)量到第二個(gè)峰值，峰值越大，說(shuō)明粉末的致密程度越高。

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